各位大拿：
   有一問題求助：如何根據(jù)SiNx薄膜的FTIR譜圖計算Si-N鍵的密度。我現(xiàn)在能夠根據(jù)FTIR圖計算各鍵對應(yīng)的峰的積分面積，可是如何進一步根據(jù)峰的面積計算鍵的密度？
   急求解答，或者哪位有相關(guān)文獻可以共同分享？多謝啦！