一、核心測量性能：

CD-5000系列光譜共焦位移傳感器其測量性能達到行業(yè)前沿，可滿足超精密場景的嚴苛需求：

• 超高精度與分辨率：實現(xiàn)亞微米級級位移測量，線性度高達 0.49μm，通過光譜色差原理放大顏色光信號，擺脫光強變化干擾，穩(wěn)定性遠超傳統(tǒng)激光三角法，確保長期測量數(shù)據(jù)可靠。

• 非接觸式測量設(shè)計：無需與被測物體直接接觸，從根源上避免表面劃傷、形變等損傷問題，尤其適配晶圓、薄膜、光學(xué)鏡片等精密器件，以及橡膠、塑料等易變形材料的測量需求。

• 高速實時監(jiān)測能力：采樣頻率可達260kHz，能快速捕捉動態(tài)物體的位移變化，滿足生產(chǎn)線實時控制、動態(tài)部件監(jiān)測等高頻場景需求。

二、強環(huán)境適應(yīng)性：

針對工業(yè)現(xiàn)場電磁干擾、溫度波動、光照變化等復(fù)雜環(huán)境，CD-5000系列光譜共焦位移傳感器通過多重防護設(shè)計保障測量穩(wěn)定性：

• 抗電磁干擾能力：探頭采用純光學(xué)結(jié)構(gòu)，無電氣元件，通過光纖與控制器連接，有效隔離現(xiàn)場電機、設(shè)備等產(chǎn)生的電磁干擾；同時光纖對雷電浪涌不敏感，控制器內(nèi)置隔離元件與防護電路，進一步提升電氣可靠性，適配電力、工業(yè)自動化等強電磁環(huán)境。

• 優(yōu)異溫度穩(wěn)定性：鏡頭無熱源設(shè)計，溫漂極??；關(guān)鍵結(jié)構(gòu)采用低熱膨脹系數(shù)材料，并搭配雙層殼體減震結(jié)構(gòu)，減少環(huán)境溫度變化與機械震動對測量的影響，抗震性能優(yōu)異，可在高低溫波動、多震動的車間環(huán)境中穩(wěn)定工作。

三、廣材質(zhì)兼容性：

CD-5000系列光譜共焦位移傳感器打破傳統(tǒng)傳感器對材質(zhì)、表面形態(tài)的限制，可應(yīng)對多種特殊材質(zhì)與復(fù)雜幾何結(jié)構(gòu)的測量需求：

• 全材質(zhì)普適性：無需調(diào)整測量參數(shù)，即可輕松測量鏡面（如金屬反光件）、透明 / 半透明體（如玻璃、樹脂、液滴）、粗糙表面（如鑄造件、噴砂件）、金屬、陶瓷等各類材質(zhì)，無需反復(fù)調(diào)整角度、易出現(xiàn)測量失效的問題。

• 復(fù)雜幾何適應(yīng)性：可測傾角達 60°，即使被測物體存在傾斜、翹曲（如彎曲的薄膜、異形構(gòu)件），測量點仍保持穩(wěn)定，無位置偏移；同軸光路設(shè)計，通過多方向光線照射，可測量傳統(tǒng)激光傳感器因遮擋無法觸及的區(qū)域（如深腔、凹槽內(nèi)側(cè)）。

• 多層與厚度測量：單次掃描即可識別最多 5 層透明介質(zhì)（如復(fù)合光學(xué)薄膜、多層樹脂板材），厚度測量下限低至 5μm；支持透明物體單向厚度測量，無需雙面校準，適配光學(xué)薄膜厚度檢測、晶圓減薄監(jiān)控、透明容器壁厚測量等場景。

四、工程化設(shè)計：

CD-5000系列光譜共焦位移傳感器以 “降本增效、靈活部署” 為設(shè)計理念，產(chǎn)品在結(jié)構(gòu)、功能上充分貼合工業(yè)應(yīng)用需求：

• 模塊化與小型化：鏡頭與控制器通過光纖分離，鏡頭體積小巧，可實現(xiàn)多探頭并排安裝（如同時測量多工位、多尺寸），輕松適配狹窄空間（如管道內(nèi)徑、精密模具型腔）的測量需求，減少設(shè)備占用空間。

• 多通道成本優(yōu)勢：單臺控制器可同時連接多個傳感器，無需為每個測量工位配置獨立控制器，顯著降低設(shè)備采購與運維成本，適合大規(guī)模生產(chǎn)線多點位同步測量（如顯示屏面板多點厚度檢測）。

產(chǎn)品核心價值

光子精密光譜共焦位移傳感器以 “高精度、高穩(wěn)定、廣兼容、易部署” 為核心，可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造（晶圓厚度 / 平整度測量）、光學(xué)器件（鏡片曲率 / 薄膜厚度檢測）、汽車工業(yè)（精密部件尺寸監(jiān)控）、3C 電子（顯示屏玻璃厚度 / 外殼平整度檢測）等領(lǐng)域，幫助企業(yè)提升測量效率、保障產(chǎn)品精度，助力工業(yè)生產(chǎn)向更高精度、更智能化方向升級。